測量厚度從 1nm 到 10mm 的先進(jìn)膜厚測量系統(tǒng)
不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù),還是想要知道材料的反射率和透過率,F(xiàn)20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝,通過USB連接電腦,設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果?;谀K化設(shè)計的特點,F(xiàn)20適用于各種應(yīng)用。
一:測量厚度、折射率、反射率和穿透率:
單層膜或多層膜疊加
單一膜層
液態(tài)膜或空氣層
二:不同條件下的測量,包括:
在平面或彎曲表面
光斑最小可達(dá)20微米
桌面式、XY坐標(biāo)自動化膜厚測量,或在線配置
所有的這些功能都伴隨著直觀的軟件界面以及我們即時的電話和互聯(lián)網(wǎng)支持(24小時/每周5工作日)。這就是Filmetrics的優(yōu)勢,歡迎您試一試!
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